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納米激光粒度分析儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱蘇州利電新能檢測(cè)設(shè)備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地蘇州市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2024/5/15 13:46:15
  • 訪問次數(shù)494
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蘇州利電新能檢測(cè)設(shè)備有限公司聚焦于新能源行業(yè),致力于成為的專業(yè)鋰離子電池檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)商。自主研發(fā)粉末電阻測(cè)試系統(tǒng)、漿料電阻測(cè)試系統(tǒng)、極片電阻測(cè)試系統(tǒng)、原位膨脹測(cè)試系統(tǒng)、原位產(chǎn)氣測(cè)試系統(tǒng)等設(shè)備。擁有來自鋰電的企業(yè)的專業(yè)技術(shù)人員提供有力的技術(shù)支持。企業(yè)使命:讓鋰電檢測(cè)更可靠!企業(yè)愿景:成為世界的鋰電檢測(cè)設(shè)備提供商!企業(yè)價(jià)值觀:專業(yè)創(chuàng)新 拼搏進(jìn)取 合作共贏
納米激光粒度儀
納米激光粒度分析儀
納米激光粒度分析儀 產(chǎn)品信息

LAP-NM10000納米粒度儀

一、納米激光粒度分析儀產(chǎn)品介紹

  LAP-NM10000納米粒度儀基于光子相關(guān)光譜技術(shù),以大動(dòng)態(tài)范圍高速光子相關(guān)器為核心器件,采用顆粒粒度反演算法,因此具有準(zhǔn)確度高、重復(fù)性高的特點(diǎn),它采用高速數(shù)字相關(guān)器和專業(yè)的高性能光電倍增管作為核心器件,具有快速、高分辨率、重復(fù)及準(zhǔn)確等特點(diǎn),是納米顆粒粒度測(cè)定的產(chǎn)品。

二、納米激光粒度分析儀測(cè)試原理

  本儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù),根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。小顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度快,大顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度慢,激光照射這些顆粒,不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理、精度*的特點(diǎn),從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性;是納米激顆粒粒度測(cè)定的儀器。

三、性能特點(diǎn)

1、大動(dòng)態(tài)范圍高速光子相關(guān)器:采用技術(shù)設(shè)計(jì)的光子相關(guān)器,以高、低速通道搭配的結(jié)構(gòu),有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾,實(shí)現(xiàn)了1010的動(dòng)態(tài)范圍,并保證了相關(guān)函數(shù)基線的穩(wěn)定性。

2、優(yōu)選反演算法:采用較優(yōu)擬合累積反演法和基于V-曲線判斷準(zhǔn)則的正則化算法反演顆粒粒徑及其粒度分布,使測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度和重復(fù)性均小于1%。

3、*的抗噪能力:采用小波消噪技術(shù),解決了散射光強(qiáng)較低時(shí),噪聲過大對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

4、穩(wěn)定的光路系統(tǒng):采用恒溫532nm固態(tài)激光光源和單模保偏光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng),保證了光子相關(guān)光譜測(cè)量系統(tǒng)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度。

5、高精度溫控系統(tǒng):基于半導(dǎo)體制冷裝置,采用自適應(yīng)PID控制算法,使溫度控制精度達(dá)±0.1。

6、高靈敏度光子探測(cè)器:采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管,對(duì)光子信號(hào)具有*的靈敏度和信噪比。光子計(jì)數(shù)器采用邊沿觸發(fā)模式,瞬間捕捉光子脈沖的變化。

四、軟件功能

  1、一鍵啟動(dòng)式測(cè)量,自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)表

  2、自動(dòng)調(diào)整散射光強(qiáng),無需用戶干涉

3、自動(dòng)優(yōu)化光子相關(guān)器參數(shù),以適應(yīng)不同樣品

五、技術(shù)指標(biāo)

LAP-NM10000納米激光粒度儀技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置

型號(hào)

LAP-NM10000

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008

測(cè)試范圍

1-10000nm(與樣品有關(guān))

ZETA電位范圍

±500mv

分子量范圍

1000~2×107Da

激光

λ=635nm,恒溫半導(dǎo)體激光器

濃度范圍

0.1ppm—40%w/v (與樣品有關(guān))

探測(cè)器

HAMAMATSU光電倍增管(PMT),使用單模保偏光纖

相關(guān)器

采樣時(shí)間100ns-50ms,相關(guān)通道1024,較大動(dòng)態(tài)范圍1010

散射角

90°

樣品池

10mm*10mm , 4ml

溫度范圍

8-60℃(溫度到0.1℃)

數(shù)據(jù)處理

較優(yōu)擬合累積分析法和改進(jìn)正規(guī)化算法,可給出平均粒徑及粒度分布曲線

軟件功能

一鍵式測(cè)量,自動(dòng)優(yōu)化測(cè)量參數(shù),輕松生成測(cè)試報(bào)表

輸出項(xiàng)目

平均粒徑、多分散系數(shù)、粒度分布曲線、粒度分布表等

測(cè)試速度

<5Min/次

準(zhǔn)確性誤差

<1%

重復(fù)性誤差

<1%

外形尺寸

390mm×255mm×240mm(目前體積較小的納米粒度儀)

電源

AC100~260V, 50/60Hz, 較大功率80W

使用環(huán)境

溫度:15~40℃,濕度20~70%。無冷凝

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