Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡在qiangzhi事件中,qiangzhi殘留物 GSR 的分析將發(fā)揮重要的作用。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡 (SEM) 的背散射成像,用來(lái)掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒,使用能譜(EDS)識(shí)別在該粒子中的元素。 常見(jiàn)的搜索元素為 Pb,Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測(cè),例如 Ti 和 Zn 也可 為搜索條件進(jìn)行搜索。
Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡自動(dòng)qiangzhi殘留物分析是*在臺(tái)式掃描電鏡運(yùn)行自動(dòng)qiangzhi殘留物分析軟件。其設(shè)計(jì)基于飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件一體化,以提高用戶(hù)操作界面友好性,可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個(gè)項(xiàng)目:自動(dòng)槍擊殘留物分析和分類(lèi)軟件包,BSED 和 EDS 探頭內(nèi)部集成,校準(zhǔn)試樣。
Phenom GSR自動(dòng)qiangzhi殘留物分析配備 CeB6 燈絲,使其穩(wěn)定運(yùn)行,燈絲壽命不低于 1500 個(gè)小時(shí),從可用性,適用性和運(yùn)行時(shí)間的角度來(lái)看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時(shí)間,和快速的全自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái),使得飛納 GSR 成為高度自動(dòng)化應(yīng)用的理想工具,可以用來(lái)進(jìn)行自動(dòng)qiang擊殘留物分析。
Phenom GSR | |
光學(xué)放大 | 3 - 16 X |
電子光學(xué)放大 | 80 - 100,000 X |
分辨率 | 優(yōu)于 20 nm |
數(shù)字放大 | Max. 12 X |
光學(xué)導(dǎo)航相機(jī) | 彩色 |
加速電壓 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 連續(xù)可調(diào) |
真空模式 | 高分辨率模式 |
降低核電效應(yīng)模式 | |
高真空模式 | |
探測(cè)器 | 背散射電子探測(cè)器 |
二次電子探測(cè)器 (選配) | |
樣品尺寸 | 大 100 mm X 100 mm |
可同時(shí)裝載 36 個(gè) 0.5 英寸樣品臺(tái) | |
樣品高度 | 高 65 mm,樣品高度全自動(dòng)調(diào)節(jié) |