minitest 730 f15 0-15mm大量程測厚儀
minitest 730已經(jīng)被minitest 735取代
MiniTest 700按照人體工學(xué)設(shè)計,外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求:如果您想單手測量,可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。
F15大量程探頭。測量范圍非常廣,高達(dá)0-15mm,適用于測量非常厚的涂層。測量原理為磁感應(yīng)原理,精度±(5μm+0.75%讀值),重復(fù)性±(2.5μm+0.5%讀值)。低端分辨率1μm,小曲率半徑5(凸)mm,小曲率半徑(凹,外置探頭)25mm,小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)30mm,測量面積Φ25mm,小基體厚度1mm。minitest 730 f15 0-15mm大量程測厚儀
![]() | 有了新的SIDSP F型探頭(測量鐵基體)和N型探頭(測量非鐵基體),您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MiniTest 700可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價值和成功的關(guān)鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。 MiniTest 720/730/740涂層測厚儀 |
MINITEST720/730/740涂層測厚儀優(yōu)點一覽:
- -SIDSP使測量不受干擾,測值更加精確
- -可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
- -FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
- -溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯誤
- -生產(chǎn)過程中50點校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
- -大存儲量,能存儲10或100組多達(dá)100,000個讀數(shù)
- -讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
- -超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
- -菜單指引操作,25種語言可選
- -帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
- -可下載更新軟件
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀主機(jī)
型號 特性MINITEST 720MINITEST 730MINITEST 740
探頭類型內(nèi)置外置內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)10 10 100
存儲數(shù)據(jù)量 多10,000個 多10,000個 多100,000個
統(tǒng)計值讀值個數(shù),小值,大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)
校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點校準(zhǔn),2點校準(zhǔn),3點校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控聲、光報警提示超過極限
測量單位um,mm,cm;mils,inch,thou
操作溫度-10℃-60℃
存放溫度-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口IrDA 1.0(紅外接口)
電源2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn)DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
體積157mm x 75.5mm x 49mm
重量約175g 約210g 約175g(內(nèi)置)/230g(外置)
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀探頭:
探頭 特性 | F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP) | |||||
精確度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
小曲率半徑(凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | , 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個讀數(shù) | |||||
單值模式下大測量速度 | 每分鐘70個讀數(shù) |